理工学研究科応用化学専攻の白田ひびきさん（博士前期课程2年?小池裕也研究室）のポスター発表が，アメリカ合众国コロラド州ウェストミンスターで开催された「2024 DENVER X-RAY CONFERENCE」（ICDD主催）で『BEST XRD POSTER』に选出されました。なお，国际学会での発表にあたり，主催のICDDより「Robert L. Snyder Student Attendance Award」（旅费助成）を获得しました。
受赏者：白田ひびき（博士前期课程２年?小池裕也研究室）
受赏名：BEST XRD POSTER
学会名：2024 DENVER X-RAY CONFERENCE
开催日：2024年8月5日（月）～2024年8月9日（金）
开催地：The Westin Westminster, Westminster, Colorado, USA
発表题目：Crystalline phase analysis of cosmetic foundation using powder X-ray diffractometry
発表者：○Hibiki Shirata, Atsushi Ohbuchi, Yuya Koike
研究内容：市贩の化粧用ファンデーション中のルチル（二酸化チタン）を、粉末X线回折分析を用いて标準试料不要な定量分析を行った研究である。粉末X线回折分析のほか、蛍光X线分析により得られた定量値も併せて丁寧に评価した。スタンダードレスの粉末X线回折分析手法として有用な知见が得られたため，その着想が高く评価されたと考える。
右侧：白田ひびきさん